Analisi della fluorescenza a raggi X, XRF della magnesite sinterizzata, magnesia sinterizzata | © CRB Analyse Service GmbH

Magnesia sinterizzata, magnesite sinterizzata, magnesite bruciata

Dati chiave della magnesia sinterizzata, magnesite sinterizzata, magnesite bruciata

  • Composizione: Fino al 99% MgO. Caratterizzazione tramite SiO2, CaO, Fe2Oe il rapporto CaO/SiO2. Altri criteri includono densità e porosità, così come la dimensione del cristallo della periclasi, MgO.
  • Con aggiunta di C come magnesiacarbon, con Cr come pietre di magnesiacarbon.
  • Materie Prime: Magnesite, MgCO3, con struttura cristallina grossolana o fine. Cloruro di magnesio, MgClda acqua di mare, salamoia salata e liquori industriali, salamoia.
  • Utilizzare: Altiforni, forni cementizi, forni a vetro, fusione di metalli non ferrosi.

Tipi di esame per l'analisi della sinter magnesia, sinter magnesite, sinter magnesite

Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una digestione di fusione

XRF quantitativo da una compressa orodispersibile su 12, 16, 20, 30 o 40 elementi secondo DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19. Per l'analisi di campioni ossidici e ossidabili di varie composizioni come vetro e fibre di vetro, suoli, roccie, materie prime minerali, ceramica e molto altro.
In questo processo, il materiale campione viene posto con un flusso (tetraborato di litio), fuso in atmosfera ossidante, spento come una tavoletta di vetro omogenea e analizzato come tale con alta precisione.

! Avvertenza !

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105°C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino XRF.

Analisi di screening su 71 elementi

Il Fundamental Parameter Program Omnian è utilizzato per XRF indipendente dalla matrice, quantitativa, semi-quantitativa o qualitativa di campioni sconosciuti di diverse proprietà del materiale e composizioni (inorganiche e organiche). Il materiale campione può essere preparato in forma preparata o con una composizione adeguata (radiografia e sottovuoto!) e la texture superficiale possono essere analizzate non preparate e non distruttive, per cui si possono determinare le concentrazioni di elementi tra il limite di rilevazione, solitamente 250 µg/g e 100%.

! Avvertenza !

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105°C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino XRF.

Norme e linee guida per l'analisi a fluorescenza a raggi X della magnesia sinterizzata, magnesite sinterizzata

  • DIN EN ISO 12677:2013-02 – Analisi chimica dei prodotti refrattari mediante analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Processo di fusione
  • DIN EN ISO 26845:2008-06 – Analisi chimica dei refrattari products - Requisiti generali per l'analisi chimica a umido, metodi di spettrometria ad assorbimento atomico (AAS), spettrometria ad emissione atomica con eccitazione mediante plasma accoppiato induttivamente (ICP-AES)
  • DIN 51001:2003-08 – Test di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per raggi X Analisi di fluorescenza (XRF)
  • DIN 51001 Supplemento 1:2010-05 – Test di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Panoramica dei metodi di digestione correlati al gruppo di materiali per la produzione di campioni per la XRF
  • DIN 51081:2002-12 – Prove di materie prime e materiali ossidici - Determinazione della variazione di massa nella ricottura
  • DIN 51418-1:2008-08 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 1: Termini e principi generali
  • DIN 51418-2:2015-03 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 2: Termini e nozioni di base per la misurazione, la taratura e la valutazione